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泰勒粗糙度輪廓儀Intra Touch

泰勒霍普森Intra Touch粗糙輪廓儀是英國泰勒霍普森公司推出的新一代表面形貌測量設(shè)備，集成了接觸式與非接觸式測量技術(shù)優(yōu)勢，專用于精密制造、半導(dǎo)體及科研領(lǐng)域的納米級表面粗糙度與輪廓分析。其核心特點包括：

多傳感器融合設(shè)計：通過觸針與光學(xué)干涉儀同步采集數(shù)據(jù)，兼顧高分辨率輪廓跟蹤與無損三維形貌重建；

智能溫控系統(tǒng)：有效抑制環(huán)境熱漂移，確保在±0.1°C波動下仍保持測量穩(wěn)定性；

自動化操作平臺：搭載自定義編程模塊，支持批量檢測與數(shù)據(jù)追溯，提升工業(yè)場景效率。

技術(shù)突破與應(yīng)用場景

超低力接觸模式：探針測量力可調(diào)節(jié)至0.1mN以下，避免軟質(zhì)材料（如聚合物、光學(xué)涂層）表面損傷；

實時動態(tài)補償算法：主動校正設(shè)備振動與樣本傾斜，在惡劣工況下仍實現(xiàn)≤10nm的重復(fù)性精度；

跨行業(yè)適配性：

航空航天：渦輪葉片涂層粗糙度質(zhì)量控制；

生物醫(yī)學(xué)：人工關(guān)節(jié)表面拋光工藝驗證；

電子制造：晶圓電路線寬輪廓監(jiān)測。